מוצרים

אנו מתארים שיטה חדשה לניתוח ספקטרום פליטת פלואורסצנטי רגיש לשלב.שיטה זו מאפשרת רזולוציה של תערובות תלת רכיבים באמצעות ספקטרים ​​הנמדדים בתדר אפנון בודד.ספקטרום רגיש לשלב מתועד באמצעות תדר אפנון אחד, במספר זוויות פאזה שרירותיות של גלאי.אין צורך לדכא אף רכיב אחד.לאחר מכן משתמשים בספקטרום להערכת משך החיים של הרכיבים ואת עוצמות השבר במצב יציב באמצעות הליך ניתוח ריבועים קטנים לא ליניאריים.הדרישה היחידה לניתוח היא הכרת ספקטרום המצב היציב של הרכיבים הבודדים.הליך זה אפשר את הרזולוציה של תערובת דו-רכיבית של 9-methylanthracene (4.5 ns) ו-9,10-diphenylanthracene (5.9 ns).יש לציין שרזולוציה של שני תקופות חיים הנבדלות ב-30% בלבד היא משימה קשה.בנוסף, פתרנו תערובת של שלושה רכיבים עם תקופות חיים שהיו שונות פי ארבעה: p-bis[2-(5-phenyloxazolyl)]בן זן (1.3 ns), 9-methylanthracene (4.5 ns) ו-9,10-diphenylanthracene (5.9 ns) ns).באופן נוח, הטכניקה משתמשת בפלואורומטר פאזה בתדר קבוע זמין מסחרית.